[发明专利]应用于多晶系的缺陷检索方法及系统在审
申请号: | 202210389220.2 | 申请日: | 2022-04-14 |
公开(公告)号: | CN115294012A | 公开(公告)日: | 2022-11-04 |
发明(设计)人: | 张传国;汪瑜;李磊;曾雉 | 申请(专利权)人: | 中国科学院合肥物质科学研究院 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T7/90;G06V10/764 |
代理公司: | 合肥市浩智运专利代理事务所(普通合伙) 34124 | 代理人: | 闫客 |
地址: | 230031 安徽*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: |
本发明公开一种应用于多晶系的缺陷检索方法及系统,属于晶界分析技术领域,方法包括:基于壳层定义,确定待测晶胞第一壳层的近邻原子数N |
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搜索关键词: | 应用于 多晶 缺陷 检索 方法 系统 | ||
【主权项】:
暂无信息
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