[发明专利]应用于多晶系的缺陷检索方法及系统在审

专利信息
申请号: 202210389220.2 申请日: 2022-04-14
公开(公告)号: CN115294012A 公开(公告)日: 2022-11-04
发明(设计)人: 张传国;汪瑜;李磊;曾雉 申请(专利权)人: 中国科学院合肥物质科学研究院
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T7/90;G06V10/764
代理公司: 合肥市浩智运专利代理事务所(普通合伙) 34124 代理人: 闫客
地址: 230031 安徽*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明公开一种应用于多晶系的缺陷检索方法及系统,属于晶界分析技术领域,方法包括:基于壳层定义,确定待测晶胞第一壳层的近邻原子数Np基于近邻原子数Np,确定参考矢量集和实际矢量集;将参考矢量集中的第一参考矢量两两相加并取最小值,得到第二参考矢量基于参考矢量集和实际矢量集,计算比例参数λ;基于实际矢量集中的实际矢量、第二参考矢量和比例参数,计算E‑CSP值。本发明中对传统的CSP方法进行改进,改进后的E‑CSP方法适用于所有晶系的缺陷检索。
搜索关键词: 应用于 多晶 缺陷 检索 方法 系统
【主权项】:
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