[发明专利]孔轴偏移量检测治具及其作业方法在审
| 申请号： | 202210393903.5 | 申请日： | 2022-04-15 |
| 公开（公告）号： | CN114646283A | 公开（公告）日： | 2022-06-21 |
| 发明（设计）人： | 李双成;马海龙;范传敏;张永乐;袁俊;卢旭坤;辜诗涛 | 申请（专利权）人： | 东莞利扬芯片测试有限公司 |
| 主分类号： | G01B21/02 | 分类号： | G01B21/02;G01B5/02;G01B11/02;G01B17/00 |
| 代理公司： | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人： | 刘光明 |
| 地址： | 523000 广东省东莞*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种孔轴偏移量检测治具及其作业方法，其中，孔轴偏移量检测治具、第一基板、第二基板、固定装置和检测装置，第一基板上设有定位轴和定位孔之任一者，第二基板上设有定位轴和定位孔之另一者，第二基板装配于第一基板时，定位轴插接于定位孔，固定装置用于将第一基板固定在底座上，检测装置用于检测二基板装配于第一基板后，直线推动第二基板时第一基板和第二基板之间的最大相对位移量，以检测定位孔和/或定位轴的偏移量，因此，本发明的孔轴偏移量检测治具能够准确地检测定位孔和/或定位轴的偏移量，从而能够准确判断定位孔和/或定位轴的偏移量是否符合标准，并且，本发明的孔轴偏移量检测治具的结构简单。 | ||
| 搜索关键词： | 偏移 检测 及其 作业 方法 | ||
【主权项】：
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