[发明专利]电子元器件近场扫描电磁图案聚类分析方法和系统在审
| 申请号： | 202210438294.0 | 申请日： | 2022-04-25 |
| 公开（公告）号： | CN114861782A | 公开（公告）日： | 2022-08-05 |
| 发明（设计）人： | 伍雨欣;许坤远;方文啸;黄权 | 申请（专利权）人： | 华南师范大学 |
| 主分类号： | G06K9/62 | 分类号： | G06K9/62;G06K9/00 |
| 代理公司： | 广州骏思知识产权代理有限公司 44425 | 代理人： | 潘慧馨 |
| 地址： | 510006 广东省广州市番禺区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种电子元器件近场扫描电磁图案聚类分析方法，所述方法包括：对被测器件进行近场扫描，再对扫描得到的数据进行后期处理得到电磁图像，然后利用改进的K‑Means聚类方法对得到的电磁图案进行聚类分析；其中，所述改进的K‑Means聚类方法是先通过手肘法确定K值，再利用K‑Means聚类方法对得到的电磁图案进行聚类分析。本发明还涉及实施所述方法的电子元器件近场扫描系统。本发明的方法采用改进的K‑Means算法，该算法可不用预先设定初始聚类值K，能更加智能化地进行电磁图案聚类。 | ||
| 搜索关键词： | 电子元器件 近场 扫描 电磁 图案 聚类分析 方法 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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