[发明专利]基于关键门的电路路径级NBTI老化预测方法及装置在审
| 申请号： | 202210452108.9 | 申请日： | 2022-04-27 |
| 公开（公告）号： | CN114841097A | 公开（公告）日： | 2022-08-02 |
| 发明（设计）人： | 孙侠;朱瑞;徐辉;马瑞君;朱烁;方贤进;宁亚飞;刘璇 | 申请（专利权）人： | 安徽理工大学 |
| 主分类号： | G06F30/30 | 分类号： | G06F30/30;G06F30/27;G06K9/62;G06N20/00;G06F119/04 |
| 代理公司： | 合肥市浩智运专利代理事务所(普通合伙) 34124 | 代理人： | 丁瑞瑞 |
| 地址： | 232001 安徽省淮*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明公开了基于关键门的电路路径级NBTI老化预测方法及装置，所述方法包括：构建训练集和测试集；利用训练集对线性回归模型进行训练，训练过程中模型的输入是关键子电路的第0年和第1年的老化延时数据，模型的输出是关键子电路的第2年至第N年的老化延时数据，N为大于2的正整数；训练完成后，利用测试集对训练好的线性回归模型进行验证，验证过程中模型的输入是关键路径的第0年和第1年的老化延时数据，模型的输出是关键路径的第2年至第N年的老化延时数据；测试完成后，将待预测的关键路径的第0年和第1年的老化延时数据输入到最终的线性回归模型，预测第2年至第N年的老化延时数据；本发明的优点在于：同时保障预测精度和速度。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 关键 电路 路径 nbti 老化 预测 方法 装置 | ||
【主权项】：
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