[发明专利]显示装置的检查方法在审
| 申请号： | 202210460065.9 | 申请日： | 2022-04-28 |
| 公开（公告）号： | CN115326359A | 公开（公告）日： | 2022-11-11 |
| 发明（设计）人： | 田口求弓 | 申请（专利权）人： | 株式会社日本显示器 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02;G09G3/20 |
| 代理公司： | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人： | 邸万杰;徐飞跃 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明的目的在于提供一种显示装置的检查方法，即使在像素高精细化的情况下，也能够通过视觉来判别缺陷像素的有无。该显示装置的检查方法包括使显示部的整个面以一定的周期交替地显示第1测试图案图像和第2测试图案图像，来检查有无缺陷像素的步骤，其中，该第1测试图案图像周期性地配置有以第1灰阶值显示的第1单位区域、和与第1单位区域相邻且以与第1灰阶值不同的第2灰阶值显示的第2单位区域，该第2测试图案图像以第2灰阶值显示第1单位区域且以第1灰阶值显示第2单位区域，第1单位区域和第2单位区域分别为1个像素。 | ||
| 搜索关键词： | 显示装置 检查 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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