[发明专利]一种碳化硅外延层生长方法在审

专利信息
申请号: 202210466465.0 申请日: 2022-04-29
公开(公告)号: CN114892273A 公开(公告)日: 2022-08-12
发明(设计)人: 吕立平 申请(专利权)人: 希科半导体科技(苏州)有限公司
主分类号: C30B29/36 分类号: C30B29/36;C30B25/20;H01L21/02
代理公司: 苏州禾润科晟知识产权代理事务所(普通合伙) 32525 代理人: 勾昌羽
地址: 215122 江苏省苏州市工业园区双灯路1号苏州纳*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开一种碳化硅外延层生长方法,包括:步骤(1)、提供碳化硅衬底,并将所述碳化硅衬底装入反应腔中;步骤(2)、对所述反应腔内气体进行置换,然后向反应腔内充入H2,并将所述反应腔内的温度升温至1500‑1700℃;步骤(3)、对所述反应腔内充入H2、含Si源气、含C源气、含P源气、N2的混合气体,并对所述混合气体的充入比例进行控制,以进行改良层的生长;步骤(4)、当所述改良层生长达到目标厚度后进行退火处理;步骤(5)、进行外延层的生长。本发明提供的碳化硅外延生长方法,能够确保整外延层中没有BPD缺陷,有效避免了因此带来的器件不良;通过改良层的生长,有效改善了衬底的表面晶体结构缺陷,降低了外延层的缺陷密度,提高了终端器件的性能;采用双重N型掺杂的模式,提高半导体的导电性,有效降低电阻率。
搜索关键词: 一种 碳化硅 外延 生长 方法
【主权项】:
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