[发明专利]集成电路器件模型提取参数的数据选取方法、系统及装置在审
| 申请号： | 202210476110.X | 申请日： | 2022-04-29 |
| 公开（公告）号： | CN114896943A | 公开（公告）日： | 2022-08-12 |
| 发明（设计）人： | 石凯;梁汉成 | 申请（专利权）人： | 上海概伦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/398 | 分类号： | G06F30/398 |
| 代理公司： | 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 | 代理人： | 胡晶 |
| 地址： | 201306 上海市浦东新区中国(上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了集成电路器件模型提取参数的数据选取方法、系统及装置，该方法中，接收集成电路器件的测试数据集，配置至少三种不同的筛选条件，且对各筛选条件设置若干偏置属性；将筛选条件以及偏置属性以标签形式填入，以生成映射表单；根据筛选条件对若干测试数据进行一次固定筛选分类后，再利用偏置属性进行二次自定义筛选，将筛选结果映射到映射表单的对应标签下，构建不同筛选结果中自定义测试数据的关联关系，并以集合形式存储每次筛选的自定义测试数据；对集成电路器件的器件模型进行拟合以进行条件实例化，调整偏置属性，实现数据的选择目的。本发明实现了偏置数据的灵活选取，并且不额外增加流程设置复杂度。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 器件 模型 提取 参数 数据 选取 方法 系统 装置 | ||
【主权项】：
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