[发明专利]射频芯片测试方法、装置、测试设备、介质及测试系统在审
| 申请号： | 202210539752.X | 申请日： | 2022-05-17 |
| 公开（公告）号： | CN114879014A | 公开（公告）日： | 2022-08-09 |
| 发明（设计）人： | 朱曹振;李珊;王典 | 申请（专利权）人： | 加特兰微电子科技（上海）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 骆文欣 |
| 地址： | 201210 上海市浦东新区自由贸易试验区盛夏*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明实施例公开了一种射频芯片测试方法、装置、测试设备、介质及测试系统。所述方法包括：确定至少两个被测射频芯片的测试频点，以及各所述被测射频芯片对应的测试频点次序，其中，所述测试频点次序满足：同一时段各所述被测射频芯片对应于不同的测试频点；按照所述测试频点次序对各所述被测射频芯片进行测试。该方法通过确定各被测射频芯片对应的测试频点次序，并按照该次序对各被测射频芯片进行测试，能够使得在多芯片测试的情况下，同一测试时间段内每颗芯片所对应的测试频点不同，有效避免了测试时多颗芯片之间存在信号频率相互干扰的问题，从而提高了芯片的测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 射频 芯片 测试 方法 装置 设备 介质 系统 | ||
【主权项】：
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