[发明专利]卡件的老化状态分析方法、系统、计算机产品及存储介质在审
| 申请号： | 202210550407.6 | 申请日： | 2022-05-20 |
| 公开（公告）号： | CN115144782A | 公开（公告）日： | 2022-10-04 |
| 发明（设计）人： | 余惠敏;星国龙;宋振华;魏利峰;韩存效;徐超;刘伟;任滈;王明;许林;胡鹏;苗延龙;李顺民 | 申请（专利权）人： | 中广核核电运营有限公司;中国广核集团有限公司;中国广核电力股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/40 | 分类号： | G01R31/40;G01R31/28;G01J5/48 |
| 代理公司： | 深圳市瑞方达知识产权事务所(普通合伙) 44314 | 代理人： | 高瑞 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市福田*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及了一种卡件的老化状态分析方法、系统、计算机产品及存储介质，该老化状态分析方法包括：获取测试人员输入的待测卡件的外观检测结果；从红外热成像装置获取待测卡件在工作时的红外图像，并根据红外图像确定待测卡件的红外检测结果；通过测试信号源向待测卡件输入相应的激励信号，并从采集控制装置获取待测卡件相应的响应信号，且根据响应信号确定待测卡件的信号检测结果；根据外观检测结果、红外检测结果和信号检测结果，对待测卡件进行老化状态分析，以获取综合分析结果。实施本发明的技术方案，可减少漏检、过检情况的发生。 | ||
| 搜索关键词： | 老化 状态 分析 方法 系统 计算机 产品 存储 介质 | ||
【主权项】：
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