[发明专利]一种利用超声测量液晶光栅内部结构的方法在审
| 申请号： | 202210599002.1 | 申请日： | 2022-05-30 |
| 公开（公告）号： | CN114935840A | 公开（公告）日： | 2022-08-23 |
| 发明（设计）人： | 宋晓燕 | 申请（专利权）人： | 联访智能科技（无锡）有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13 |
| 代理公司： | 重庆百润洪知识产权代理有限公司 50219 | 代理人： | 尹洪剑 |
| 地址： | 214000 江苏省无*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开一种利用超声测量液晶光栅内部结构的方法，包括：将超声流量计的两个探头分别紧贴于液晶光栅的上下表面；开启超声流量计，测量两个探头之间液晶光栅内的流体速度变化；控制液晶光栅的液晶部分的流向发生转向，并再次测量两个探头之间液晶光栅内的流体速度变化；重复上述步骤多次，测量两个探头之间液晶光栅内的流体速度变化，从而计算出液晶部分的截面尺寸；调整两个探头的位置，重复上述过程，计算出液晶部分的其它位置的截面尺寸；通过多个位置的截面尺寸绘制出液晶光栅的整体内部结构。本发明可以在不对液晶光栅进行破坏的情况下通过测量多个位置的截面尺寸从而构建出液晶光栅的内部结构。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 利用 超声 测量 液晶 光栅 内部结构 方法 | ||
【主权项】：
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