[发明专利]基于元成像的工业检测系统、方法、电子设备及存储介质在审
| 申请号： | 202210602144.9 | 申请日： | 2022-05-30 |
| 公开（公告）号： | CN115201199A | 公开（公告）日： | 2022-10-18 |
| 发明（设计）人： | 戴琼海;邓超;吴嘉敏 | 申请（专利权）人： | 清华大学 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88;G06T7/00;G06T17/00 |
| 代理公司： | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人： | 黄德海 |
| 地址： | 100084*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种基于元成像的工业检测系统、方法、电子设备及存储介质，包括：采集模块，用于采集工业产品的四维扫描光场信息；重建模块，用于利用元成像方法对四维扫描光场信息进行图像重建得到工业产品的三维结构；检测模块，用于检测工业产品的三维结构中的缺陷，得到工业产品的缺陷检测结果，从而快速获得工业产品的三维高分辨光场信息，并精确重建工业产品的三维精细结构以进行缺陷检测，从而实现快速、精确、实时的对工业产品表面进行三维缺陷检测。由此，解决了现有工业检测技术速度较慢，精度不高，且成本昂贵等问题。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 成像 工业 检测 系统 方法 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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