[发明专利]一种全自动芯片测试机有效
| 申请号： | 202210603567.2 | 申请日： | 2022-05-31 |
| 公开（公告）号： | CN114690024B | 公开（公告）日： | 2022-08-26 |
| 发明（设计）人： | 杨应军;董洪斌;成灿;蔡创坤;鲁建红;陈伯乐 | 申请（专利权）人： | 广东东博自动化设备有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;B65G47/91;B65G47/74;B65G37/02;B07C5/36 |
| 代理公司： | 广东莞信律师事务所 44332 | 代理人： | 谢树宏 |
| 地址： | 523000 广东省东莞市松山湖高新技术*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种全自动芯片测试机，包括第一机台、第二机台和第三机台，第二机台和第三机台平行设置，第二机台和第三机台垂直连接在第一机台上，第二机台和第三机台上均设有安装支架，安装支架上设有多个测试机构安装层，每个测试机构安装层上均间隔设有多个测试机构，第二机台和第三机台的对应侧均设有中转上料移栽机械手。本发明采用了批量芯片全自动化的测试方式，能够同时多个芯片测试，提高测试效率。测试机构能够实现高低温环境下对芯片的功能测试，提高测试的准确性。本发明能够对合格品和NG品进行分选，分别装入NG品料盘上和OK品料盘上收集，然后能够将装满芯片的料盘搬运出、并补充空盘到对应的输送线上。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 全自动 芯片 测试 | ||
【主权项】：
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