[发明专利]表面缺陷的检测方法、系统、电子设备及存储介质在审
| 申请号： | 202210621825.X | 申请日： | 2022-06-01 |
| 公开（公告）号： | CN115063357A | 公开（公告）日： | 2022-09-16 |
| 发明（设计）人： | 徐海俊;孙新;许汝济 | 申请（专利权）人： | 苏州镁伽科技有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06V10/20;G06V10/25;G06V10/30;G06V10/764;G06V10/774;G06V10/82 |
| 代理公司： | 北京睿邦知识产权代理事务所(普通合伙) 11481 | 代理人： | 徐丁峰;张玮 |
| 地址： | 215000 江苏省苏州市中国（江苏）自由贸易试*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明的实施例提供了一种表面缺陷的检测方法、系统、电子设备及存储介质。该方法包括：获取待检测图像，其中，待检测图像包括多个目标单元；获取第一滑动窗口和第一步长；根据第一步长，在待检测图像上滑动第一滑动窗口，以获取与每次滑动分别对应的局部图像，其中，第一滑动窗口和第一步长的设置满足：每个目标单元完整地位于至少一个局部图像中；将每个局部图像输入预设模型中进行检测，并输出每个局部图像的检测结果信息，其中，检测结果信息包括缺陷识别结果信息和/或正常识别结果信息。该方案能够更高效地检测目标对象的各种类型的缺陷，且自适用性更强；同时检测准确率也更高。 | ||
| 搜索关键词： | 表面 缺陷 检测 方法 系统 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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