[发明专利]缺陷检测方法、装置、缺陷检测系统、设备及介质在审
| 申请号： | 202210633003.3 | 申请日： | 2022-06-06 |
| 公开（公告）号： | CN115035059A | 公开（公告）日： | 2022-09-09 |
| 发明（设计）人： | 张俊瑞;朱学辉;王利;刘一泽;程久阳;孙秀茹 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T5/00;G06T5/50;G06V10/44;G06V10/764 |
| 代理公司： | 北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319 | 代理人： | 苟冬梅 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本公开提供了一种缺陷检测方法、装置和缺陷检测系统，所述方法包括：对待检器件进行第一图像采集，得到初检图像；基于所述初检图像，对所述待检器件进行第一缺陷检测；若未通过所述第一缺陷检测，对所述待检器件进行第二图像采集，得到精检图像；其中，所述精检图像的分辨率高于所述初检图像的分辨率；基于所述精检图像，对所述待检器件进行第二缺陷检测。 | ||
| 搜索关键词： | 缺陷 检测 方法 装置 系统 设备 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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