[发明专利]一种RIR值法定量时快速解决衍射峰重叠的方法在审

专利信息
申请号: 202210701521.4 申请日: 2022-06-21
公开(公告)号: CN115060751A 公开(公告)日: 2022-09-16
发明(设计)人: 王春建;黄沁源 申请(专利权)人: 昆明理工大学
主分类号: G01N23/207 分类号: G01N23/207;G01N23/2055;G01N23/2005
代理公司: 安徽智联芯知识产权代理事务所(普通合伙) 34237 代理人: 宁政
地址: 650000 云南*** 国省代码: 云南;53
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摘要: 发明涉及X射线定量分析技术领域,具体为一种RIR值法定量时快速解决衍射峰重叠的方法,其包括以下步骤;S1、衍射峰形参数的拟合;S2、弱衍射峰的选取;S3、受干扰衍射峰强度计算:I′为受干扰物相的次衍射峰的强度值,Imax为受干扰物相的最强衍射峰强度值,I’pdf为PDF卡片中受干扰物相的次衍射峰的理论强度值,为PDF卡片中受干扰物相的最强衍射峰理论强度值,公式为:S4、RIR值法定量计算过程:将S3中计算得到的Imax带入RIR值法定量计算公式,公式为:本发明可解决衍射峰重叠时RIR值法无法计算问题,能在大规模高通量的定量工业需求下快速得到定量结果。
搜索关键词: 一种 rir 法定 快速 解决 衍射 重叠 方法
【主权项】:
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