[发明专利]一种衬底改性处理方法及半导体发光器件的制造方法有效

专利信息
申请号: 202210714093.9 申请日: 2022-06-23
公开(公告)号: CN114808141B 公开(公告)日: 2022-09-20
发明(设计)人: 刘增伟;周光权;曾柏翔;李瑞评 申请(专利权)人: 福建晶安光电有限公司
主分类号: C30B33/00 分类号: C30B33/00;C30B29/20;C04B41/50;H01L33/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 362411 福建省*** 国省代码: 福建;35
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摘要: 发明涉及晶圆制造领域,特别是涉及一种衬底改性处理方法。本发明提供一种衬底改性处理方法及半导体发光器件的制造方法,通过在衬底表面涂覆反应溶液,生成多晶层铝酸钙的同时又利于相邻衬底间的分离。含有钠离子的第二反应物经过化学反应后生成氧化钠,具有较多优点:氧化钠能够与衬底中的氧化铝反应生成偏铝酸钠,偏铝酸钠溶于水后实现相邻衬底间的分离;偏铝酸钠进一步分解为氧化钠及氧化铝中间产物,该产物能够与氧化钙以较高的反应速率生成铝酸钙,加速多晶层的生成;氧化钠在与衬底中的氧化铝发生反应时,会在衬底表面形成微凹坑,加速反应并释放应力;此外,衬底表面残余的氧化钠还能进一步溶于水,从而促进相邻衬底之间的分离。
搜索关键词: 一种 衬底 改性 处理 方法 半导体 发光 器件 制造
【主权项】:
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