[发明专利]一种芯片可测性设计的方法在审
| 申请号： | 202210725964.7 | 申请日： | 2022-06-24 |
| 公开（公告）号： | CN114994509A | 公开（公告）日： | 2022-09-02 |
| 发明（设计）人： | 张磊;邵健;姜若旭;王琪;王丽娟 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第五十八研究所 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/317;G01R1/04 |
| 代理公司： | 无锡派尔特知识产权代理事务所(普通合伙) 32340 | 代理人： | 杨强 |
| 地址： | 214000 *** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种芯片可测性设计的方法，所述方法基于JTAG的可测性测试/调试系统装置，包括：激励模块，JTAG测试/调试端口，TAP控制器模块单元，指令解析模块单元，指令寄存器模块单元，目标模块输出MUX单元和对应目标模块单元。且本芯片可测性设计的方法能够分时复用地对多个对应目标模块进行测试或调试，该设计方法有三个特点：兼容通用标准协议；兼容大部分通用调试软件；允许多个调试工具对各自被调试模块或芯片的TAP控制器进行访问和调试，而不影响在其他模块或芯片进行调试操作。本发明基于通用协议接口进行测试调试，相比于已有的不兼容通用协议标准多个器件互联的方案，具有结构简单、通用性强、可扩展性强的特点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 可测性 设计 方法 | ||
【主权项】：
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