[发明专利]相位阵列阶梯反射镜器件，单脉冲X射线脉宽的测量装置和测量方法在审
| 申请号： | 202210758567.X | 申请日： | 2022-06-30 |
| 公开（公告）号： | CN115047508A | 公开（公告）日： | 2022-09-13 |
| 发明（设计）人： | 杨勇;杨俊义;宋瑛林 | 申请（专利权）人： | 苏州大学 |
| 主分类号： | G01T1/00 | 分类号： | G01T1/00;G01J11/00;G02B5/00 |
| 代理公司： | 苏州满天星知识产权代理事务所(普通合伙) 32573 | 代理人： | 赵静 |
| 地址： | 215006*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种相位阵列阶梯反射镜器件，单脉冲X射线脉宽的测量装置和测量方法。所述单脉冲X射线脉宽的测量装置，包括同步控制系统，探测光光源，探测光束调制系统，相位阵列阶梯反射镜器件，成像系统，标准样品(GaAs晶体)，数据记录装置，以及X射线源，所述同步控制系统控制探测光源发射探测光并控制X射线源发射X射线，所述X射线射向标准样品(GaAs晶体)，所述相位阵列阶梯反射镜器件位于位于成像系统的物平面上。本发测量装置可准确测量X射线脉宽。 | ||
| 搜索关键词： | 相位 阵列 阶梯 反射 器件 脉冲 射线 测量 装置 测量方法 | ||
【主权项】：
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