[发明专利]红外探测器性能测试方法、装置、设备及可读存储介质在审
| 申请号： | 202210784590.6 | 申请日： | 2022-06-29 |
| 公开（公告）号： | CN115165123A | 公开（公告）日： | 2022-10-11 |
| 发明（设计）人： | 胡长德;海书亮;刘强;毛南平;李子杨;朱荣臻;刘婕;温歆;常晓茹 | 申请（专利权）人： | 中国人民解放军战略支援部队航天工程大学士官学校 |
| 主分类号： | G01J5/90 | 分类号： | G01J5/90;G06K9/62;G06F17/10;G06F17/18 |
| 代理公司： | 北京集智东方知识产权代理有限公司 11578 | 代理人： | 陈亚斌;关兆辉 |
| 地址： | 102299*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及材料检测技术领域，具体而言，涉及一种红外探测器性能测试方法、装置、设备及可读存储介质，所述方法包括获取第一信息和第二信息，所述第一信息包括红外探测器获取的图像信息，所述第二信息包括所述红外探测器的测量数据信息；将所述第一信息和第二信息发送至指标计算模块进行计算，得到至少一个红外探测器的指标数据平均值；将至少一个所述红外探测器的指标数据平均值发送至关联分析模块进行分析，并基于分析得到的关联度值确定所述红外探测器性能评分，本发明通过对红外探测器性能指标进行检测，可根据自身要求对所述红外探测器判断是否适合，减少成本投入，本方法还可用于辅助学生理解红外探测器特性。 | ||
| 搜索关键词： | 红外探测器 性能 测试 方法 装置 设备 可读 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国人民解放军战略支援部队航天工程大学士官学校，未经中国人民解放军战略支援部队航天工程大学士官学校许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202210784590.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：暗敷式喷淋夹心围挡
- 下一篇：一种手机中框水平紧压矫正装置
