[发明专利]芯片的性能确定方法、装置、电子设备及存储介质在审
| 申请号： | 202210785566.4 | 申请日： | 2022-07-05 |
| 公开（公告）号： | CN115840685A | 公开（公告）日： | 2023-03-24 |
| 发明（设计）人： | 严寒;梁喆;庄永文 | 申请（专利权）人： | 北京爱芯科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/34 | 分类号： | G06F11/34 |
| 代理公司： | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人： | 罗岚 |
| 地址： | 100190 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本公开提出一种芯片的性能确定方法、装置、电子设备及存储介质，其中，芯片的性能确定方法包括：在芯片执行预设算法的过程中，获取芯片的执行单元EU执行预设算法所包括的算子的第一运行时间，预设算法被分解成多个算子部署于芯片的至少一个EU中；基于第一运行时间和EU执行算子的执行逻辑，获取芯片执行预设算法的第二运行时间；基于第二运行时间，获取芯片执行预设算法的性能参数。由此，能够获取芯片执行算法的性能参数，从而在算法开发的过程中对算法的实现性能和部署性能进行评估，以提高算法的实现性能和部署性能。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 性能 确定 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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