[发明专利]芯片的性能确定方法、装置、电子设备及存储介质在审
申请号: | 202210785566.4 | 申请日: | 2022-07-05 |
公开(公告)号: | CN115840685A | 公开(公告)日: | 2023-03-24 |
发明(设计)人: | 严寒;梁喆;庄永文 | 申请(专利权)人: | 北京爱芯科技有限公司 |
主分类号: | G06F11/34 | 分类号: | G06F11/34 |
代理公司: | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人: | 罗岚 |
地址: | 100190 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本公开提出一种芯片的性能确定方法、装置、电子设备及存储介质,其中,芯片的性能确定方法包括:在芯片执行预设算法的过程中,获取芯片的执行单元EU执行预设算法所包括的算子的第一运行时间,预设算法被分解成多个算子部署于芯片的至少一个EU中;基于第一运行时间和EU执行算子的执行逻辑,获取芯片执行预设算法的第二运行时间;基于第二运行时间,获取芯片执行预设算法的性能参数。由此,能够获取芯片执行算法的性能参数,从而在算法开发的过程中对算法的实现性能和部署性能进行评估,以提高算法的实现性能和部署性能。 | ||
搜索关键词: | 芯片 性能 确定 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】:
暂无信息
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