[发明专利]半导体装置及其制备方法在审

专利信息
申请号: 202210797966.7 申请日: 2022-07-06
公开(公告)号: CN115064517A 公开(公告)日: 2022-09-16
发明(设计)人: 钟艾东 申请(专利权)人: 东莞市中器集成电路有限公司;东莞市中镓半导体科技有限公司
主分类号: H01L23/528 分类号: H01L23/528;H01L23/532;H01L21/768;H01L23/367;H01L23/373
代理公司: 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 代理人: 罗泳文
地址: 523000 广东省东莞*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提供一种半导体装置及其制备方法,半导体装置包括:半导体器件结构;钝化层;第一平坦化层,覆盖于钝化层上,第一平坦化层和钝化层在半导体器件结构的电极上方具有镂空窗口;金属互联层,位于第一平坦化层的上表面,并通过镂空窗口与半导体器件结构的电极相连;导热体,位于金属互联层之上并与金属互联层接触,导热体包括主柱体及连接体;第二平坦化层,导热体穿透第二平坦化层而显露于第二平坦化层之上。本发明不需要在厚度较大的氮化镓衬底中刻蚀通孔,可以有效将热导率较低的氮化镓材料制成的器件所产生的热量导出,在有效降低工艺时间成本和提高器件良率的情况下,有效降低器件的结温,使器件可在大功率下进行工作。
搜索关键词: 半导体 装置 及其 制备 方法
【主权项】:
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