[发明专利]一种检测分子半导体材料中电学输运带隙的方法有效
| 申请号： | 202210886062.1 | 申请日： | 2022-07-26 |
| 公开（公告）号： | CN115389891B | 公开（公告）日： | 2023-07-25 |
| 发明（设计）人： | 周学华;白国梁;王春花;何文祥;耿同谋;汪谢;武琳 | 申请（专利权）人： | 安庆师范大学 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;H10K10/40;H10K71/70 |
| 代理公司： | 合肥市浩智运专利代理事务所(普通合伙) 34124 | 代理人： | 缪璐欢 |
| 地址： | 246133 *** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： |
本发明公开一种检测分子半导体材料中电学输运带隙的方法，通过设计一种新型的热电子晶体管，通过器件结构的设计、每一层材料的选择、制备工艺的优化赋予热电子晶体管超高的载流子能量调节能力，通过实时监控分子电子器件中载流子的输运情况测得I |
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| 搜索关键词： | 一种 检测 分子 半导体材料 电学 输运 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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