[发明专利]一种精准度高的残影测试方法在审
| 申请号： | 202210946151.0 | 申请日： | 2022-08-08 |
| 公开（公告）号： | CN115371964A | 公开（公告）日： | 2022-11-22 |
| 发明（设计）人： | 杨磊;魏玲枫;樊劼 | 申请（专利权）人： | 信利光电仁寿有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 | 代理人： | 胡昌志 |
| 地址： | 620500 四川省眉山*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种精准度高的残影测试方法，属于显示屏模组测试技术领域，通过光学仪器对点亮黑白格画面前后的纯灰色画面的色坐标进行检测，使得显示屏模组残影的测试结果能够用数据来量化，能够解决人眼判断残影测试结果可能存在误差的问题，让残影的判定更加精准，在进行测试前，通过多人判断同一显示屏模组的残影程度，然后选择相同值作为对照对光学仪器进行校准，能够保证光学仪器在使用时的精准度，从而能够让残影的判定结果更加精准，采用同一个点屏装置为进行点亮，能够减少前后检测的误差，并且对每次点亮后的亮度进行检测，能够减少亮度差异对检测结果的影响。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 精准 测试 方法 | ||
【主权项】：
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