[发明专利]半导体装置在审

专利信息
申请号: 202210950578.8 申请日: 2022-08-09
公开(公告)号: CN115835732A 公开(公告)日: 2023-03-21
发明(设计)人: 中井佑亮;石川琢磨;谷川兼一;川田宽人 申请(专利权)人: 冲电气工业株式会社
主分类号: H10K59/50 分类号: H10K59/50
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 马建军;邓毅
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 半导体装置。在层叠有光学元件膜的半导体装置中,通过在其表面配置微透镜,能够实现更高性能化,但由于距透镜的距离因层叠的光学元件膜而不同,因此透镜的聚光率因光学元件膜而出现差异,因此,难以通过一个透镜高效地实现期望的颜色特性。半导体装置具有:G层(12G),其包含绿色发光元件(14G);R层(12R),其包含转换效率比绿色发光元件(14G)低的红色发光元件(14R);微透镜(115)。绿色发光元件(14G)和红色发光元件(14R)在微透镜(115)的光轴方向上位于微透镜(115)与其焦点(115a)之间,从光轴方向观察至少一部分重叠,配置成红色发光元件(14R)比绿色发光元件(14G)更靠近焦点。
搜索关键词: 半导体 装置
【主权项】:
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