[发明专利]一种基于修饰层的氧化物薄膜晶体管及其制备方法在审

专利信息
申请号: 202210962752.0 申请日: 2022-08-11
公开(公告)号: CN115295629A 公开(公告)日: 2022-11-04
发明(设计)人: 张磊;李东旭;王欢;于军胜 申请(专利权)人: 电子科技大学;电子科技大学长三角研究院(湖州)
主分类号: H01L29/786 分类号: H01L29/786;H01L21/02;H01L21/42;H01L21/34;C23C14/08
代理公司: 北京天奇智新知识产权代理有限公司 11340 代理人: 王大刚
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明提供一种基于修饰层的氧化物薄膜晶体管及其制备方法;其中,TFT器件包括绝缘层,氧化物有源层,修饰层,以及源漏栅三个电极。本发明在底栅顶接触型TFT结构的基础上,在绝缘层和有源层之间创新性地加入了修饰层,制备基于修饰层的非晶氧化物薄膜晶体管,在紫外光照射下,修饰层呈现出有序的条纹状结构,因此,表面粗糙度散射效应减小,从而提高TFT的载流子迁移率。
搜索关键词: 一种 基于 修饰 氧化物 薄膜晶体管 及其 制备 方法
【主权项】:
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