[发明专利]一种iView-TK触摸调试系统在审
申请号: | 202210972469.6 | 申请日: | 2022-08-15 |
公开(公告)号: | CN115408216A | 公开(公告)日: | 2022-11-29 |
发明(设计)人: | 姚彬彬;顾永和;翁子彬;续文敏 | 申请(专利权)人: | 无锡中微爱芯电子有限公司 |
主分类号: | G06F11/22 | 分类号: | G06F11/22 |
代理公司: | 无锡科嘉知信专利代理事务所(普通合伙) 32515 | 代理人: | 顾翰林 |
地址: | 214000 江苏省无锡市*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种iView‑TK触摸调试系统;包括触摸MCU芯片,所述触摸MCU芯片上电性连接有数据处理模块,所述数据处理模块上电性连接有ilink调试器,所述ilink调试器上电性连接有上位机,所述触摸MCU芯片用于实现对系统进行控制调节,并且通过IIC协议与所述ilink调试器通讯连接,所述ilink调试器用于实现对数据信息进行传输,所述ilink调试器用于解决串口通信常出现的丢包、需要自定义数据协议、占用串口外设的缺点,所述ilink调试器通过通过USB接口与所述上位机电性连接,所述上位机用于实现对所述触摸MCU芯片进行控制调节;本发明使用ilink调试器作为中介,使得上位机与触摸MCU芯片的通信分为前端后端两个部分,前后端的分开使上位机与触摸MCU芯片的交互更加灵活。 | ||
搜索关键词: | 一种 iview tk 触摸 调试 系统 | ||
【主权项】:
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