[发明专利]dIdD磁力仪不水平度检测方法、装置和电子设备

摘要

本发明提供一种dIdD磁力仪不水平度检测方法，包括：获取初始时刻的磁通门传感器测量的初始总场强度在XYZ坐标系下的分量X0、Y0和Z0；获取任一测量周期内所述dIdD磁力仪的五个测量值Fi+，Fi‑，Fd+，Fd‑和F；Fi+和Fi‑均为向Ci线圈施加强度为Ai的正反偏置场得到的合成场，Fd+和Fd‑均为向Cd线圈施加强度为Ad的正反偏置场得到的合成场；获取所述任一测量周期对应时刻所述磁通门传感器测量的总场强度在XYZ坐标系下的分量值Fx、Fy、Fz；基于上述获取数据，确定dIdD磁力仪的偏置磁场不水平度ε0。实现了直接检测线圈磁场的水平性以供有效便利地对dIdD数据进行补偿。