[发明专利]一种芯片测试平台在审
| 申请号： | 202211017026.8 | 申请日： | 2022-08-23 |
| 公开（公告）号： | CN115453313A | 公开（公告）日： | 2022-12-09 |
| 发明（设计）人： | 闫耀军;韩国英;田世玉;郝晓辉 | 申请（专利权）人： | 珠海光翊智能科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01B11/00 |
| 代理公司： | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人： | 牛丽霞 |
| 地址： | 519000 广东省珠海市香洲区福*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及芯片技术领域，公开了一种芯片测试平台，芯片测试平台包括载台组件、测试组件、相机组件以及光源组件，载台组件用于承载芯片，芯片的电接触面朝上设于载台组件上，测试组件用于抵接测试电接触面，测试组件用于测试电接触面的测试值，相机组件朝向电接触面设置，相机组件用于采集识别电接触面的位置，光源组件用于照射电接触面；其中，相机组件与测试组件电连接。本发明技术方案旨在实现对芯片进行测试检测。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 测试 平台 | ||
【主权项】：
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