[发明专利]一种测量光学薄膜内外雾度的方法有效

专利信息
申请号: 202211019008.3 申请日: 2022-08-24
公开(公告)号: CN115452775B 公开(公告)日: 2023-04-25
发明(设计)人: 刁锐敏;颜红莲;武小刚;唐子杰;谢雨 申请(专利权)人: 龙华相位新材料(绵阳)股份有限公司
主分类号: G01N21/59 分类号: G01N21/59;G01N21/47
代理公司: 成都诚中致达专利代理有限公司 51280 代理人: 杨春
地址: 621000 四川*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 一种测量光学薄膜内外雾度的方法,包括步骤:步骤01,通过雾影仪测量出待测光学薄膜的总体雾度H0;步骤02,选取辅助液;步骤03,选取四片对比光学薄膜;步骤04,通过样品制备架制备出多块尺寸相等的第一光学薄膜样品;步骤05,通过雾影仪测量出第一光学薄膜样品的雾度H01,或以标准片的形式对第一光学薄膜样品进行校准;步骤06,通过样品制备架制备出多块尺寸相等的第二光学薄膜样品;步骤07,通过雾影仪测量出第二光学薄膜样品的雾度Hi;步骤08,计算得出Hs待测光学薄膜的表面雾度。方便进行雾度检测样品的制备,并且能够确保外表面雾度检测结果的准确性。
搜索关键词: 一种 测量 光学薄膜 内外 方法
【主权项】:
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