[发明专利]内场有源干扰散射特性测量装置与测量方法在审
| 申请号： | 202211022381.4 | 申请日： | 2022-08-23 |
| 公开（公告）号： | CN115453214A | 公开（公告）日： | 2022-12-09 |
| 发明（设计）人： | 吕冰;左炎春;刘伟;李金本;刘迎澳;郭立新 | 申请（专利权）人： | 西安电子科技大学 |
| 主分类号： | G01R29/08 | 分类号： | G01R29/08;G01S7/36 |
| 代理公司： | 西安弘理专利事务所 61214 | 代理人： | 曾庆喜 |
| 地址： | 710071 陕*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明内场有源干扰散射特性测量装置，包括暗室，暗室内壁上铺有吸波材料，暗室内设置有转台、信号发射天线和干扰信号发射天线，转台周围设置有多探头阵列接收天线，信号发射天线依次连接有功率放大器a、矢量网络分析仪和一体化电脑，功率放大器a与多探头阵列接收天线连接，干扰信号发射天线依次连接有功率放大器b和干扰信号发生器，转台连接有转台控制系统，转台控制系统与一体化电脑连接。本发明还公开了内场有源干扰散射特性测量方法，通过干扰信号发生器向测量目标发射正弦波干扰信号，通过多探头阵列接收天线接收多方位反射回来的电磁波信号以提取电磁散射特征模型。本发明解决了目标散射特性的测量问题和耦合效应引起的测量误差问题。 | ||
| 搜索关键词： | 内场 有源 干扰 散射 特性 测量 装置 测量方法 | ||
【主权项】：
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