[发明专利]一种高速串行芯片误码率测试系统及方法在审
| 申请号： | 202211060255.8 | 申请日： | 2022-08-31 |
| 公开（公告）号： | CN115396353A | 公开（公告）日： | 2022-11-25 |
| 发明（设计）人： | 熊立志;刘湘贵 | 申请（专利权）人： | 深圳市国芯物联科技有限公司 |
| 主分类号： | H04L43/50 | 分类号： | H04L43/50;H04L43/0823 |
| 代理公司： | 北京广技专利代理事务所(特殊普通合伙) 11842 | 代理人： | 崔征 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市福田区梅*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供一种高速串行芯片误码率测试系统及方法，包括：高速串行芯片装置用于基于预设的FPGA收发器发送与接收高速串行数据；误码率测试模块用于通过预设的时钟源，测试和读取高速串行数据的误码率；校准模块用于根据所述误码率生成对应的校准参数，并通过所述校准参数接收并校准高速串行芯片装置发送的高速串行数据；控制模块用于接收用户指令，并通过所述接收用户指令，控制高速串行芯片和误码率测试模块和驱动模块的通信。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 高速 串行 芯片 误码率 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
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