[发明专利]一种多线宽线段端点反走样处理方法和系统有效

专利信息
申请号: 202211112718.0 申请日: 2022-09-14
公开(公告)号: CN115205422B 公开(公告)日: 2022-12-13
发明(设计)人: 郭元浩;夏伟杰;李涵;李文强;张川;周钰致;刘伟强;周建江;苏霖 申请(专利权)人: 南京航空航天大学
主分类号: G06T11/20 分类号: G06T11/20
代理公司: 南京钟山专利代理有限公司 32252 代理人: 戴朝荣
地址: 210016 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明提供一种多线宽线段端点反走样处理方法和系统,其中方法包括获取多线宽线段的起始点坐标、终止点坐标和线宽;计算起始点坐标或终止点坐标的上方添加的像素点个数;计算起始点坐标或终止点坐标的下方添加的像素点个数;计算起始点的权重值;计算终止点的权重值;计算起始点坐标上下方添加的像素点的像素值;计算终止点坐标上下方添加的像素点的像素值;通过四线渐变反走样算法完成起始点处待反走样处理的像素点的反走样;通过四线渐变反走样算法完成终止点处待反走样处理的像素点的反走样。本发明解决了通过四线渐变反走样算法绘制的多线宽线段未对端点处做反走样处理的问题,使得多线宽线段的显示效果好,更符合实际的显示。
搜索关键词: 一种 多线宽 线段 端点 走样 处理 方法 系统
【主权项】:
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