[发明专利]一种基于FPGA的ADC采样数据校准方法及系统在审

专利信息
申请号: 202211140733.6 申请日: 2022-09-20
公开(公告)号: CN115425976A 公开(公告)日: 2022-12-02
发明(设计)人: 陈磊;王世界;彭析竹;唐鹤 申请(专利权)人: 重庆邮电大学;电子科技大学重庆微电子产业技术研究院
主分类号: H03M1/10 分类号: H03M1/10;H03M1/12
代理公司: 重庆辉腾律师事务所 50215 代理人: 王诗思
地址: 400065 重*** 国省代码: 重庆;50
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摘要: 发明涉及一种基于FPGA的ADC采样数据校准方法及系统,包括:获取ADC原始采样数据和ADC标准采样数据对神经网络进行训练得到神经网络的第一参数和第二参数;将第一参数和待校准的ADC采样数据输入FPGA的RAM存储器,根据第二参数在FPGA内搭建一个顶层模块;FPGA根据用户输入的控制信号读取待校准的ADC采样数据,并将待校准的ADC采样数据依次移位到寄存器,调用乘法器IP核将待校准的ADC采样数据与第一参数相乘得到第一ADC校准数据;将第一ADC校准数据输入顶层模块得到最终ADC校准数据,本发明结构简单运算速度快,系统处理效率高,数据吞吐率高,对ADC采样数据的校准效率好,具有可移植性。
搜索关键词: 一种 基于 fpga adc 采样 数据 校准 方法 系统
【主权项】:
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