[发明专利]一种用于光学系统的像质检测装置、方法、设备以及介质在审
| 申请号： | 202211148517.6 | 申请日： | 2022-09-21 |
| 公开（公告）号： | CN115508910A | 公开（公告）日： | 2022-12-23 |
| 发明（设计）人： | 董科研;张家齐;宋延嵩;高亮;薛佳音;张轶群 | 申请（专利权）人： | 长春理工大学 |
| 主分类号： | G01V13/00 | 分类号： | G01V13/00;G01M11/00;B64D47/02 |
| 代理公司： | 哈尔滨市阳光惠远知识产权代理有限公司 23211 | 代理人： | 姜艳红 |
| 地址： | 130012 *** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | 本发明是一种用于光学系统的像质检测装置、方法、设备以及介质。本发明涉及红外跟踪和信标光指向调节技术领域，本发明通过导轨移动两个转台相对位置，到达指定信标光测试间距要求后，对目标进行指向，发现目标后两个转台红外探测器分别对其跟踪，跟踪稳定后对目标发射检测信标光。信标发射组件光束通过四块库德镜穿过转台射出，光纤不随转台运动，可以有效解决光纤线随转台长时间转动对光纤带来的损坏以及多光轴准度的技术问题。两个跟踪转台间距可连续移动，可增加检测指标的同时，降低成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 光学系统 质检 装置 方法 设备 以及 介质 | ||
【主权项】：
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