[发明专利]集成电路精密测试装置在审
| 申请号： | 202211163172.1 | 申请日： | 2022-09-23 |
| 公开（公告）号： | CN115542118A | 公开（公告）日： | 2022-12-30 |
| 发明（设计）人： | 周迪 | 申请（专利权）人： | 周迪 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 重庆百润洪知识产权代理有限公司 50219 | 代理人： | 程宇 |
| 地址： | 361005 福建*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本发明公开一种集成电路精密测试装置，包括：硬件测试单元和软件测试单元；硬件测试单元包括常规电路板数据测试模块和硬件性能测试模块；软件测试单元包括软件代码复制模块、虚拟集成电路硬件环境搭建模块和软件代码虚拟集成电路运行测试模块。本发明通过对集成电路的硬件模块和软件代码分别测试，确保集成电路在生产测试过程中更加精准的找出集成电路出现故障的类别为硬件或者软件。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 精密 测试 装置 | ||
【主权项】：
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