[发明专利]硅基OLED微型显示屏残影量化评估方法在审
| 申请号： | 202211170075.5 | 申请日： | 2022-09-26 |
| 公开（公告）号： | CN115604457A | 公开（公告）日： | 2023-01-13 |
| 发明（设计）人： | 张韦晨曦;秦国辉;于晓辉;王永宏;段瑜;万锐敏;袁渝超;毛智民 | 申请（专利权）人： | 云南北方奥雷德光电科技股份有限公司 |
| 主分类号： | H04N17/00 | 分类号： | H04N17/00;H04N5/21;H04N23/84 |
| 代理公司： | 昆明祥和知识产权代理有限公司 53114 | 代理人： | 张亦凡 |
| 地址： | 650223 云*** | 国省代码： | 云南;53 |
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| 摘要： | 本发明涉及OLED显示屏测试技术领域，尤其是一种硅基OLED微型显示屏残影量化评估方法，采用高对比度的棋盘格作为测试画面，当显示屏连续显示棋盘格规定时间后，切换为单色画面，利用工业级COMS数字面阵相机采集测试图像，再通过计算机对采集到的测试图像进行处理和特征值提取，处理测试图像以增强图像特征；最后获取当前测试图像灰度变化值与残影判定阈值对比。该方法通过工业级相机采集图像，并通过平滑滤波和锐化滤波等图像处理技术降噪，进而可以更加客观、量化地评价显示画面残影的严重程度，进行分级评估，提高残影检测的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 硅基 oled 微型 显示屏 量化 评估 方法 | ||
【主权项】：
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