[发明专利]利用平行光检测物体尺寸的方法、装置、设备及存储介质在审
| 申请号： | 202211201484.7 | 申请日： | 2022-09-29 |
| 公开（公告）号： | CN115615353A | 公开（公告）日： | 2023-01-17 |
| 发明（设计）人： | 杨浦;沈珏玮 | 申请（专利权）人： | 上海零眸智能科技有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/24 | 分类号： | G01B11/24;G01B11/02;G06F16/53 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 201800 上海市嘉*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本申请涉及一种利用平行光检测物体尺寸的方法、装置、设备及存储介质，应用于计算机设备，所述方法包括：获取平行光从若干个照射角度照射在标准物体上产生的若干个阴影面积信息；保存所述平行光从若干个照射角度照射在标准物体上产生的若干个阴影面积信息至数据库；获取所述平行光照射待检测物体所产生的阴影面积信息；将所述待检测物体所产生的阴影面积与所述数据库中对应的阴影面积进行比对，计算所述待检测物体所产生的阴影面积与所述数据库中对应的阴影面积的差值，若两者差值在预设范围内，则判定所述待检测物体尺寸为合格。本申请具有的效果是：用来用来提高检测产品尺寸的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 利用 平行 检测 物体 尺寸 方法 装置 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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