[发明专利]一种用于硅纳米阵列的渗透钝化方法在审

专利信息
申请号: 202211204030.5 申请日: 2022-09-29
公开(公告)号: CN115528139A 公开(公告)日: 2022-12-27
发明(设计)人: 陈剑辉;周欣;陈兵兵;张旭宁;郭建新;闫小兵;高青;王淑芳;傅广生 申请(专利权)人: 河北大学
主分类号: H01L31/18 分类号: H01L31/18;H01L31/20;B82B3/00;B82Y40/00;H01L31/0216
代理公司: 石家庄领皓专利代理有限公司 13130 代理人: 薛琳
地址: 071000 *** 国省代码: 河北;13
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摘要: 发明涉及硅纳米阵列技术领域,提出了一种用于硅纳米阵列的渗透钝化方法,包括以下步骤:将钝化溶液滴到硅纳米阵列表面,静置至渗透,完成钝化。通过上述技术方案,1)解决了硅纳米阵列的钝化难题,有效、高质量的钝化物理刻蚀、化学刻蚀制备的硅纳米阵列,消除现有钝化方案所需的大型真空设备,简化工艺、降低成本、提高安全性;2)渗透钝化硅纳米阵列,使得硅纳米阵列同时具备低反射损失以及低复合损失功能,满足逆俄歇反常光伏效应(即一个光子产生两对电子‑空穴对)的两个必要条件,使得外量子效率大于100%,有望突破单结晶体硅电池效率的SQ理论极限,获得更高的电池光电转换效率。
搜索关键词: 一种 用于 纳米 阵列 渗透 钝化 方法
【主权项】:
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