[发明专利]射频场特性测试装置及方法在审
| 申请号： | 202211246427.0 | 申请日： | 2022-10-12 |
| 公开（公告）号： | CN115694678A | 公开（公告）日： | 2023-02-03 |
| 发明（设计）人： | 李艳红;王超峰;闫宏雁;汤炜;田义;杨扬;张宇;任俊;柴娟芳;陆志沣 | 申请（专利权）人： | 上海机电工程研究所 |
| 主分类号： | H04B17/10 | 分类号： | H04B17/10;H04B17/20;H04B17/15;H04B17/29;G01B7/02 |
| 代理公司： | 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 | 代理人： | 胡晶 |
| 地址： | 201100 上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种射频场特性测试装置及方法，直线滑杆、磁栅尺和电机均固定在扫描底盘上；直线滑杆和磁栅尺并排放置；直线滑杆上滑动有滑块，接收天线通过转接件设置在滑块上；磁栅尺的磁头设置在滑块上，磁栅尺测量接收天线的位移；电机驱动接收天线运动；圆筒的一端设置在扫描底盘背离直线滑杆的底面，且圆筒具有沿垂直于扫描底盘的法向方向伸缩功能；圆筒的另一端设置在连接法兰上；连接法兰固定在转台内框上。本发明区别于扫描支架的标准增益喇叭，本发明采用小型圆极化天线，且充分利用转台自身的滚转轴结构，直线导杆加转台旋转形成平面扫描，结构相对简单紧凑，适用于半实物仿真系统静区内电磁场特性的测量。 | ||
| 搜索关键词： | 射频 特性 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
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