[发明专利]一种地层密度测量方法、存储介质和设备在审
| 申请号： | 202211260059.5 | 申请日： | 2022-10-14 |
| 公开（公告）号： | CN115685361A | 公开（公告）日： | 2023-02-03 |
| 发明（设计）人： | 请求不公布姓名 | 申请（专利权）人： | 安徽中科超安科技有限公司 |
| 主分类号： | G01V5/04 | 分类号： | G01V5/04;G01V5/10;G01V5/12 |
| 代理公司： | 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 | 代理人： | 姚晓丽 |
| 地址： | 230031 安徽省合肥市蜀*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种地层密度测量方法、存储介质和设备，涉及测井技术领域。该方法包括：建立用于表征地层密度和非弹性伽马计数比、热中子计数比之间关系的地层密度的中子测井模型；将待测井的目标地层所述非弹性散射伽马射线计数比、所述热中子计数比和多个刻度系数代入地层密度的中子测井模型中，获得所述待测井的目标地层的地层密度。本方案利用热中子和非弹性伽马计数，即可获得最终的地层密度。本发明具有地层岩性的影响小、测量效率高、相关仪器设计简单的特点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 地层 密度 测量方法 存储 介质 设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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