[发明专利]一种软错误电路检测系统在审
| 申请号： | 202211291807.6 | 申请日： | 2022-10-20 |
| 公开（公告）号： | CN115632636A | 公开（公告）日： | 2023-01-20 |
| 发明（设计）人： | 任懿;甘焱林 | 申请（专利权）人： | 深圳摩芯半导体有限公司 |
| 主分类号： | H03K3/037 | 分类号： | H03K3/037;H03K5/125 |
| 代理公司： | 武汉中知诚业专利代理事务所(普通合伙) 42271 | 代理人： | 施志勇 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区粤海街道高新*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供一种软错误电路检测系统，主要通过分析D触发器软错误发生的时间与位置，从而在关键路径上检测D触发器是否发生了软错误，在D触发器工作时时，数据从D到Q的锁存过程中经历了2次锁存，LATCH0与LATCH1的锁存。在CK＝1时，LATCH1锁存数据，将Dn端的数据复制到Q端，LATCH0保持数据不变，这时如果有高能粒子改变LATCH0的栅极，使Dn端的数据发生异常改变，则D触发器有软错误发生。当CK＝1时，检测Latch0的电源或地的充放电电流，可探测Dn端是否发生软错误翻转，从而实现了检测D触发器是否发生软错误翻转。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 错误 电路 检测 系统 | ||
【主权项】：
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