[发明专利]抬头显示模组内部杂散光分析方法、装置、设备及介质在审
| 申请号： | 202211295423.1 | 申请日： | 2022-10-21 |
| 公开（公告）号： | CN115598836A | 公开（公告）日： | 2023-01-13 |
| 发明（设计）人： | 王云帆;高昌达 | 申请（专利权）人： | 浙江炽云科技有限公司 |
| 主分类号： | G02B27/00 | 分类号： | G02B27/00;G02B27/01 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 孔凡红 |
| 地址： | 310012 浙江省杭*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明实施例公开了一种抬头显示模组内部杂散光分析方法、装置、设备及介质。首先建立抬头显示模组光学模型，然后控制点亮显示屏中的局部像素点，并依次改变显示屏的出光角度以及依次改变点亮的局部像素点的位置，分别获取不同出光角度和不同局部像素点位置下抬头显示模组光学模型的内部光线走势，最后根据抬头显示模组光学模型的内部光线走势，确定抬头显示模组内部是否存在杂散光和/或抬头显示模组内部存在的杂散光的类型。该方案能够有效的分析抬头显示模组内部是否存在杂散光，以及快速且准确的判断抬头显示模组内部存在的杂散光的类型，可以用于反馈指导抬头显示模组的光学设计和修改，对减弱及消除杂散光具有重要的作用。 | ||
| 搜索关键词： | 抬头 显示 模组 内部 散光 分析 方法 装置 设备 介质 | ||
【主权项】：
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