[发明专利]一种外场全尺寸目标的雷达RCS测量系统有效
| 申请号： | 202211309774.3 | 申请日： | 2022-10-25 |
| 公开（公告）号： | CN115372930B | 公开（公告）日： | 2023-01-24 |
| 发明（设计）人： | 吴护林;彭刚;洪韬;张天才;陈知华;李忠盛;徐塱;邓贤明;田进军;项运良;方林全;张小华 | 申请（专利权）人： | 北京测威科技有限公司;中国兵器工业第五九研究所;北京航空航天大学云南创新研究院 |
| 主分类号： | G01S7/41 | 分类号： | G01S7/41;G01S7/40;G01S13/88 |
| 代理公司： | 北京三环同创知识产权代理有限公司 11349 | 代理人： | 邵毓琴;赵勇 |
| 地址： | 100086 北京市海*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明实施方式提供一种外场全尺寸目标的雷达RCS测量系统，涉及外场RCS测量领域。所述测量系统包括：外场RCS测量装置，用于在外场对设置在目标区域的全尺寸目标进行雷达RCS测量；透波罩，其由透波材料制成，用于在进行所述RCS测量时，隔绝所述透波罩外部的外场环境对所述目标区域的背景电平的影响；其中，所述目标区域位于所述透波罩与承载面共同界定的内部空间中，所述目标区域与所述透波罩之间的最小间隔大于第一阈值。通过设置透波罩笼罩设置全尺寸目标的目标区域，可以避免天气等外场环境对目标区域背景电平的影响，保证背景对消技术对目标区域生效。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 外场 尺寸 目标 雷达 rcs 测量 系统 | ||
【主权项】：
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