[发明专利]电芯包膜缺陷检测方法、装置、控制设备和检测系统在审
| 申请号： | 202211339543.7 | 申请日： | 2022-10-26 |
| 公开（公告）号： | CN115791973A | 公开（公告）日： | 2023-03-14 |
| 发明（设计）人： | 请求不公布姓名 | 申请（专利权）人： | 上海先导慧能技术有限公司 |
| 主分类号： | G01N29/06 | 分类号： | G01N29/06;G01N29/44 |
| 代理公司： | 苏州衡创知识产权代理事务所(普通合伙) 32329 | 代理人： | 蔡宝 |
| 地址： | 201100 上*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请涉及一种电芯包膜缺陷检测方法、装置、控制设备和检测系统。该方法包括：按照设定的测试参数发送超声测试控制指令至超声检测设备，控制超声检测设备向待测电芯包膜表面的多个位置点发射超声波；接收超声检测设备反馈的各位置点超声波的回波信号并确定回波信号超声强度，将回波信号超声强度与待测电芯的位置点对应关联并生成当前的位置‑强度图像；将当前的位置‑强度图像与已存的标准位置‑强度图像对比，识别低超声强度区域并确定低超声强度区域的尺寸；将低超声强度区域的尺寸与预设合格尺寸对比并生成判定结果，判定结果用于判定待测电芯是否存在不合格的包膜缺陷。采用本申请，可以提高电芯包膜缺陷检测的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 包膜 缺陷 检测 方法 装置 控制 设备 系统 | ||
【主权项】：
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