[发明专利]流体冷却式反射X射线源在审

专利信息
申请号: 202211354025.2 申请日: 2022-11-01
公开(公告)号: CN116072489A 公开(公告)日: 2023-05-05
发明(设计)人: 克劳斯·弗拉切内克;布鲁斯·博尔歇斯 申请(专利权)人: 卡尔蔡司有限公司
主分类号: H01J35/02 分类号: H01J35/02;H01J35/06;H01J35/10;H01J35/12;H01J35/16
代理公司: 北京高沃律师事务所 11569 代理人: 王芳
地址: 美国加利福尼亚州都柏林*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 在反射靶X射线源的操作期间,必须从许多组件中移除热。电子束必须被转向至靶并且可沿此路径与结构相互作用。在靶本身中也产生热。这可能是过量的,因为只有非常小百分比的电子束的能量被转换成X射线。最后,X射线必须通过窗离开真空,窗也可由X射线、反射电子和来自靶的辐射热加热。水冷式反射X射线源为定心孔、X射线靶和/或出口窗提供水或其他流体冷却。
搜索关键词: 流体 冷却 反射 射线
【主权项】:
暂无信息
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