[发明专利]功率半导体器件电阻电容一体化单机测试仪及测试方法在审
| 申请号： | 202211368408.5 | 申请日： | 2023-01-30 |
| 公开（公告）号： | CN115718243A | 公开（公告）日： | 2023-02-28 |
| 发明（设计）人： | 高志齐;武胜强;李春生;周剑 | 申请（专利权）人： | 常州同惠电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R27/02;G01R27/26 |
| 代理公司： | 常州联正专利代理事务所(普通合伙) 32546 | 代理人： | 张岳 |
| 地址： | 213000 *** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种功率半导体器件电阻电容一体化单机测试仪及测试方法，用于实现功率半导体器件的输入电阻、输入电容、输出电容、反向电容在不同直流偏置电压条件下的多通道扫描测试，包括控制电路、LCR测试电路、栅极偏压电路、漏极偏压电路及多通道隔离开关矩阵电路。该功率半导体器件电阻电容一体化单机测试仪及测试方法将控制电路、LCR测试电路、栅极偏压电路、漏极偏压电路及多通道隔离开关矩阵电路集成于单台仪器中，操作简单、维护方便，制作成本更低，大大提高了测试精度及测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 功率 半导体器件 电阻 电容 一体化 单机 测试仪 测试 方法 | ||
【主权项】：
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