[发明专利]一种基于稀疏表征的磁纳米粒子成像图像重建方法在审

专利信息
申请号: 202211374390.X 申请日: 2022-11-04
公开(公告)号: CN115844362A 公开(公告)日: 2023-03-28
发明(设计)人: 孙世杰;陈瑶瑶;钟景;徐立军 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: A61B5/05 分类号: A61B5/05
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100191*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明属于磁纳米粒子成像领域,具体涉及了一种基于稀疏表征的磁纳米粒子成像图像重建方法,旨在解决磁纳米粒子成像速度慢、成像精度差的问题。本发明包括:利用磁纳米粒子成像系统,对成像空间施加扫描磁场和激励磁场,通过移动单位的磁纳米粒子样品获取系统矩阵A;将被测对象放置于成像空间,采集被测对象产生的磁化响应信号并进行频谱分析,将获取的频谱信号记为U;采用自适应方法选取紧支径向基中心点,将待求的磁纳米粒子浓度分布写成一组紧支径向基加权的形式,得到新的待求解方程;对新的待求解方程进行Tikhonov标准化,再通过代数重建算法对其进行求解。本发明采用稀疏表征算法进行图像重建,能够减少未知量的数目,降低待求解矩阵的维度,加快图像重建速度,有效提高磁纳米粒子成像的精度,且实现过程方便、简洁。
搜索关键词: 一种 基于 稀疏 表征 纳米 粒子 成像 图像 重建 方法
【主权项】:
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