[发明专利]一种微钻芯厚测量装置在审
申请号: | 202211406261.4 | 申请日: | 2022-11-10 |
公开(公告)号: | CN115900491A | 公开(公告)日: | 2023-04-04 |
发明(设计)人: | 石红雁;刘仙文;刁东风;林贵林;张昊 | 申请(专利权)人: | 深圳大学 |
主分类号: | G01B5/06 | 分类号: | G01B5/06 |
代理公司: | 深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414 | 代理人: | 周伟锋 |
地址: | 518000 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明属于微钻测量技术设备领域,尤其涉及一种微钻芯厚测量装置。微钻芯厚测量装置包括:固定设置的刻度标尺、连接微钻的高度调节机构以及邻接高度调节机构并固定设置的芯厚测量表,刻度标尺用于表征微钻的高度值,高度调节机构相对刻度标尺设置,且用于调节微钻的高度,芯厚测量表测量微钻对应位置的芯厚值。本发明通过芯厚测量表对微钻进行连续测量,不受限于固定点的测量,提高了微钻的测量范围。 | ||
搜索关键词: | 一种 微钻芯厚 测量 装置 | ||
【主权项】:
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