[发明专利]硬盘性能测试方法、装置、设备、存储介质和程序产品在审
申请号: | 202211458945.9 | 申请日: | 2022-11-17 |
公开(公告)号: | CN115757066A | 公开(公告)日: | 2023-03-07 |
发明(设计)人: | 李德明;刘晓;柴兆文 | 申请(专利权)人: | 中科可控信息产业有限公司 |
主分类号: | G06F11/34 | 分类号: | G06F11/34 |
代理公司: | 华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 张泽铭 |
地址: | 215300 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本申请涉及一种硬盘性能测试方法、装置、设备、存储介质和程序产品,该方法包括:服务器响应于待测试硬盘的测试指令,并根据测试指令中携带的配置参数,确定待测试硬盘所属的处理器节点,从处理器节点内所有处理器核心中确定待测试硬盘的目标处理器核心,然后通过目标处理器核心对待测试硬盘进行测试,以得到待测试硬盘的性能测试结果。该方法中,在待测试硬盘所属的处理器节点中确定待测试硬盘对应的目标处理器核心,并通过目标处理器核心对待测试硬盘进行性能测试,通过对应的所属处理器核心对待测试硬盘进行测试,能够更好的得到硬盘在服务器上的性能,提高了硬盘在服务器上性能测试的准确性。 | ||
搜索关键词: | 硬盘 性能 测试 方法 装置 设备 存储 介质 程序 产品 | ||
【主权项】:
暂无信息
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