[发明专利]一种FRA测试装置、电子设备、系统及FRA测试方法在审
| 申请号： | 202211474447.3 | 申请日： | 2022-11-23 |
| 公开（公告）号： | CN115993237A | 公开（公告）日： | 2023-04-21 |
| 发明（设计）人： | 吴孝红;张茹茹;童小彬 | 申请（专利权）人： | 上海艾为电子技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 李慧引 |
| 地址： | 201199 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种FRA测试装置、电子设备、系统及FRA测试方法，可以直接利用已有的VCM驱动芯片进行FRA测试，计算出VCM的频率响应特性，完成FRA测试工具的所有功能(产生正弦信号驱动VCM、检测VCM的输出信号以及计算VCM的频率响应特性)，减少FRA测试时的测试设备的数量和种类，从而降低FRA测试成本和测试环境复杂度，达到方便快捷的实现FRA测试的目的。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 fra 测试 装置 电子设备 系统 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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